Wafer Charging Monitors (WCM): for Semiconductors

Wafer Charging Monitors, Inc.

Le novità alla WCM!

DamageMap™

Assistenza GMR

Informazioni sulla WCM

Prodotti e servizi

Domande ricorrenti

Presentazione prodotti e servizi

Rappresentanze di vendita

Materiale informativo

Istruzioni

Le novità nella ricerca!

Note e istruzioni tecniche

Pubblicazioni

Ricerca (Abstract)

Newsletter

Modulo di iscrizione gratuita

Numero corrente

Archivi


	Leader nella fornitura di prodotti e servizi per la valutazione del caricamento del wafer in apparecchiature a semiconduzione, quali impianti ionici, inceneritori, etcher, e sistemi a deposito di plasma.

	Monitor per Wafer Charm®-2 200, 150, 125, 100 e 75-mm
Software ChargeMap® e servizi di valutazione

Wafer Charging Monitors, Inc.
127 Marine Road
Woodside, CA 94062
U.S.A.

tel: (650) 851-9313 . . . . fax: (650) 851-2252

E-mail: webmaster@charm-2.com

caricamento del wafer, monitor della carica, danneggiamento da carica, CHARM, charm, wafer CHARM, monitor CHARM, danneggiamento da carica, processo di danneggiamento indotto, danneggiamento del plasma, danneggiamento dell'impianto, danneggiamento da UV, impianto ad alta densità di corrente, danneggiamento dell'ossido, potenziale del plasma, sonda a plasma, wafer SPIDER, Quantox, SDI, diagnostica semiconduttore, inceneritore, stripper a valle, impiantatore ionico, cannone elettronico, doccia di elettroni, etcher a plasma, stripper resistivo, apparecchiatura a semiconduttore, impianto all'arsenico, etching con risonanza ciclotronica elettronica, aggressivo di porta, aggressivo dell'ossido, deposito di plasma, aggressivo del plasma, etching via plasma, aggressivo polisilicico, pulizia con sputter, via aggressivo, ossido di porta, ossidi sottili, affidabilità dei circuiti integrati, monitoraggio in linea, circuiti integrati, trattamento del wafer, miglioramento dei rendimenti, wcm